SIMS Workstation

Phép trắc phổ khối ion thứ cấp (SIMS) là kỹ thuật phân tích bề mặt có độ nhạy cao nhất với giới hạn phát hiện nhiều nguyên tố đến hàm lượng ppb cùng khả năng phát hiện được tất cả các nguyên tố và đồng vị. Mẫu được bắn phá bởi một chùm ion trong điều kiện chân không siêu cao (UHV) và vật liệu phún xạ, đặc tính của bề mặt được phân tích bởi khối phổ có độ nhạy cao. Do đó, SIMS Workstation được sử dụng để phân tích vật liệu composite – kim loại – gốm, vật liệu hữu cơ, chất liệu bán dẫn, v.v..

Tổng quan về sản phẩm

Hệ thống SIMS của Hiden trang bị một súng bơm ion khí cho sự bắn phá Oxi và Argon trong suốt phép đo khối phổ thứ cấp ion – SIMS và phún xạ khối phổ trung hòa – SNMS (sputtered neutral mass spectrometry), cùng một súng bơm Cesi nhạy với các ion âm. Cả hai súng bơm ion sơ cấp này đều được điều khiển bởi một giao diện máy tính trực quan, cho phép quan sát hình dạng và cường độ chùm ion trong quá trình điều khiển. Các thông số có thể được lưu giữ và lấy lại cho quá trình tái cài đặt công cụ trở nên nhanh chóng. Hiden cung cấp những tùy chọn theo nhu cầu nghiên cứu cụ thể hay những yêu cầu giám sát quá trình, đảm bảo hiệu suất tối đa, phù hợp với ứng dụng của người dùng.

SIMS Workstation của Hiden Analatycial sử dụng để phân tích cả SIMS tĩnh và SIMS động, cùng với khối phổ tứ cực kế MAXIM có độ nhạy cao, thiết bị có thể hoạt động ở chế độ phát hiện ion thứ cấp để pháp hiện ion dương, âm và các thành phần trung hoà.

Sự tạo ảnh SIMS cũng là một công cụ mạnh mẽ của thiết bị. Một camera cho phép định vị chính xác. Cùng với đó, phổ SIMS dễ dàng thu được nhờ sử dụng phần mềm MASoft để điều khiển tất cả các thông số phân tích, khôi phục, hoạt động của van, khối lượng và tốc độ thu thông qua giao diện biểu đồ đường.

Đặc trưng của máy khối phổ ion thứ cấp – SIMS

• Sử dụng phần mềm MASsoft Professional để điều khiển MAXIM SIMS phân tích tới hàm lượng ppb
• Tích hợp bộ ion hoá để phân tích SNMS hiệu quả
• Lựa chọn các nguồn ion kích thích theo nhu cầu sử dụng
• Sử dụng súng bơm ion khí IG20, IG5C Caesium, IFG200 FAB hoặc súng Gallium lỏng hiệu suất cao theo nhu cầu sử dụng
• Tích hợp bộ điều khiển raster cho sung ion với cổng tín hiệu để định hình độ sâu
• Tuỳ chọn súng phun điện tử để trung hoà điện tích trong nghiên cứu chất cách điện
• Có sẵn bộ điều khiển UHV để định vị vị trí mẫu tối ưu
• Tùy chọn hình ảnh nguyên tố SIMS với chương trình ESM LabVIEW SIMS Imaging
• Thiết bị có sẵn thư viện quang phổ SIMS
• Tự động điều chỉnh ống kính quang học ion SIMS
• Căn chỉnh khối lượng tự động cho hiệu suất SIMS tối ưu

Kết luận

Để biết thêm thông tin chi tiết, tư vấn và tham vấn thêm các vấn đề và giải pháp của khối phổ trong các lĩnh vực, Quý khách vui lòng liên hệ theo thông tin dưới đây:

Công ty TNHH Khoa Học và Kỹ Thuật REECO

• Địa chỉ: Phòng 202B, Nhà A, Khu Công Nghệ Phần Mềm, Đường Võ Trường Toản, Đại Học Quốc Gia Thành Phố Hồ Chí Minh, Khu Phố 6, Phường Linh Trung, Thành phố Thủ Đức, Thành phố Hồ Chí Minh, Việt Nam
• Email: info@reecotech.com.vn
• Hotline: 0938 696 131 (Phòng Kinh doanh) / 0901 880 386 (Phòng Dịch vụ Kỹ thuật)
• Website: https://reecotech.com.vn/
• Fanpage: https://www.facebook.com/ReecoTech