Filter

Showing all 8 results

Filter

Find device
Manufacturer

Thin films & Surface Engineering

Hệ thống phân tích chùm phân tử XBS RC

XBS

A system for multiple source monitoring in MBE deposition applications
Find out more
Súng ion Argon hoặc Oxygen 5keV dành cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG20

A 5keV Argon or Oxygen ion source for UHV surface analysis applications
Find out more
ToF-qSIMS Workstation

ToF-qSIMS Workstation

Surface analysis and depth profiling applications of a wide range of materials including polymers, pharmaceuticals, superconductors, semiconductors, alloys, optical and functional coatings and dielectrics, with measurement of trace components to sub-ppm levels
Find out more
Hệ thống phổ khối ion thứ cấp (SIMS)

AutoSIMS

Automatic Surface Analysis System
Find out more
Hệ thống nghiên cứu giải hấp nhiệt độ lập trình chân không cao

TPD Workstation

A system for UHV temperature programmed desorption (TPD/TDS) studies
Find out more
Súng ion Caesium 5keV cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG5C

A 5keV Caesium ion gun for UHV surface analysis applications
Find out more
SIMS WORSTATION

SIMS Workstation

A UHV surface analysis system for thin film depth profiling
Find out more
Hệ thống máy phân tích khối phổ ion thứ cấp SIMS và SNMS tĩnh và động

MAXIM

A system for static and dynamic SIMS and SNMS applications
Find out more