Lọc

Hiển thị tất cả 8 kết quả

Bộ lọc

Tìm thiết bị
Hãng sản xuất

Kỹ thuật bề mặt và màng mỏng

Hệ thống phân tích chùm phân tử XBS RC

XBS

Hệ thống giám sát nhiều nguồn trong ứng dụng lắng đọng MBE
tìm hiểu thêm
Súng ion Argon hoặc Oxygen 5keV dành cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG20

Súng ion Argon hoặc Oxygen 5keV dành cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV
tìm hiểu thêm
ToF-qSIMS Workstation

ToF-qSIMS Workstation

Phân tích bề mặt và tạo hồ sơ độ sâu của một loạt các vật liệu bao gồm polyme, dược phẩm, siêu dẫn, bán dẫn, hợp kim, lớp phủ quang học và chức năng, chất điện môi, với khả năng đo lường các thành phần trace xuống mức sub-ppm
tìm hiểu thêm
Hệ thống phổ khối ion thứ cấp (SIMS)

AutoSIMS

Hệ thống phổ khối ion thứ cấp (SIMS)
tìm hiểu thêm
Hệ thống nghiên cứu giải hấp nhiệt độ lập trình chân không cao

TPD Workstation

Hệ thống nghiên cứu giải hấp nhiệt độ lập trình chân không cao (UHV TPD/TDS)
tìm hiểu thêm
Súng ion Caesium 5keV cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG5C

Súng bơm ion/bắn phá nguyên tử IFG200 của Hiden để đo khối phổ ion thứ cấp tĩnh, động
tìm hiểu thêm
SIMS WORSTATION

SIMS Workstation

Hệ thống phân tích bề mặt UHV để lập hồ sơ độ sâu màng mỏng
tìm hiểu thêm
Hệ thống máy phân tích khối phổ ion thứ cấp SIMS và SNMS tĩnh và động

MAXIM

Hệ thống máy phân tích khối phổ ion thứ cấp SIMS và SNMS tĩnh và động
tìm hiểu thêm